Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.utmn.ru/jspui/handle/ru-tsu/29403
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЖуравский, Д. В.ru
dc.contributor.authorЗдыренкова, Т. В.ru
dc.contributor.authorРядов, Μ. H.ru
dc.contributor.authorСнохин, Г. А.ru
dc.contributor.authorZhuravsky, D. V.en
dc.contributor.authorZdyrenkova, T. V.en
dc.contributor.authorRyadov, Μ. H.en
dc.contributor.authorSnokhin, G. A.en
dc.date.accessioned2023-12-25T06:12:15Z-
dc.date.available2023-12-25T06:12:15Z-
dc.date.issued2009-
dc.identifier.citationИсследование наноразмерных пленок серебра методом атомно-силовой микроскопии / Д. В. Журавский, Т. В. Здыренкова, М. Н. Рядов [и др.]. — Текст : электронный // Вестник Тюменского государственного университета / главный редактор Г. Ф. Шафранов-Куцев. — Тюмень : Издательство Тюменского государственного университета, 2009. — № 6. — С. 69–73.ru
dc.identifier.issn1562-2983-
dc.identifier.urihttps://elib.utmn.ru/jspui/handle/ru-tsu/29403-
dc.description.abstractПриведены результаты исследования структуры поверхности пленок серебра методом атомно-силовой микроскопии. Пленки получены методом гальванического осаждения на медную подложку. Установлено, что метод гальваноосаждения позволяет получать наноразмерные пленки.ru
dc.description.abstractThe article gives the results of silver film ’s surface structure analysis with the atomic-force microscopy. Films are obtained by the method of galvanic plating on the copper substrate. It is found out that nanoscale films can be obtained by galvanic plating.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherИздательство Тюменского государственного университетаru
dc.relation.ispartofВестник Тюменского государственного университета. — 2009. — № 6ru
dc.subjectатомно-силовая микроскопияru
dc.subjectгальванические пленкиru
dc.subjectповерхностьru
dc.subjectatomic-force microscopyen
dc.subjectgalvanic filmsen
dc.subjectsurfaceen
dc.titleИсследование наноразмерных пленок серебра методом атомно-силовой микроскопииru
dc.title.alternativeNanoscale silver films analysis with atomic-force microscopyen
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
local.description.firstpage69-
local.description.lastpage73-
local.issue6-
local.identifier.uuid63c7c362-977c-4a58-b5d0-dbd7148ab1b9-
local.identifier.handleru-tsu/29403-
Appears in Collections:Вестник ТюмГУ: Физико-математическое моделирование. Нефть, газ, энергетика

Files in This Item:
File SizeFormat 
vestnikTyumGU_2009_6_69_73.pdf5.29 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.