Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.utmn.ru/jspui/handle/ru-tsu/29403
Title: Исследование наноразмерных пленок серебра методом атомно-силовой микроскопии
Other Titles: Nanoscale silver films analysis with atomic-force microscopy
Authors: Журавский, Д. В.
Здыренкова, Т. В.
Рядов, Μ. H.
Снохин, Г. А.
Zhuravsky, D. V.
Zdyrenkova, T. V.
Ryadov, Μ. H.
Snokhin, G. A.
Keywords: атомно-силовая микроскопия
гальванические пленки
поверхность
atomic-force microscopy
galvanic films
surface
Issue Date: 2009
Publisher: Издательство Тюменского государственного университета
Citation: Исследование наноразмерных пленок серебра методом атомно-силовой микроскопии / Д. В. Журавский, Т. В. Здыренкова, М. Н. Рядов [и др.]. — Текст : электронный // Вестник Тюменского государственного университета / главный редактор Г. Ф. Шафранов-Куцев. — Тюмень : Издательство Тюменского государственного университета, 2009. — № 6. — С. 69–73.
Abstract: Приведены результаты исследования структуры поверхности пленок серебра методом атомно-силовой микроскопии. Пленки получены методом гальванического осаждения на медную подложку. Установлено, что метод гальваноосаждения позволяет получать наноразмерные пленки.
The article gives the results of silver film ’s surface structure analysis with the atomic-force microscopy. Films are obtained by the method of galvanic plating on the copper substrate. It is found out that nanoscale films can be obtained by galvanic plating.
URI: https://elib.utmn.ru/jspui/handle/ru-tsu/29403
ISSN: 1562-2983
Source: Вестник Тюменского государственного университета. — 2009. — № 6
Appears in Collections:Вестник ТюмГУ: Физико-математическое моделирование. Нефть, газ, энергетика

Files in This Item:
File SizeFormat 
vestnikTyumGU_2009_6_69_73.pdf5.29 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.